Tydens die verwerking van ingemaakte, gebottelde of verpakte voedsel, kan vreemde kontaminante soos gebreekte glas, metaalskaafsels of onsuiwerhede van rou materiaal beduidende voedselveiligheidsrisiko's inhou.

Om dit aan te spreek, bied Techik gespesialiseerde X-straal-inspeksietoerusting wat ontwerp is vir die opsporing van vreemde kontaminante in verskeie houers, insluitend blikkies, bottels en flesse.

Die Techik-voedsel-X-straaldetektor-inspeksietoerusting vir blikkies, bottels en flesse is spesifiek ontwerp om vreemde kontaminante in uitdagende areas soos onreëlmatige houervorms, houerbodems, skroefmondings, blikblikringtrekkers en randperse op te spoor.

Deur gebruik te maak van 'n unieke optiese padontwerp gekombineer met Techik se selfontwikkelde "Intelligent Supercomputing" KI-algoritme, verseker die stelsel hoogs akkurate inspeksieprestasie.

Hierdie gevorderde stelsel bied omvattende opsporingsvermoëns, wat die risiko van kontaminante wat in die finale produk agterbly, effektief verminder.