Beherantz inklinatua Beam bakarreko X izpien ikuskapen-sistema botilak, poteak eta latak
*Produktuaren aurkezpena:
Beherantz inklinatutako izpi bakarreko X izpien ikuskapen-sistema latak, latak eta botilak eskualde guztietan objektuak ikuskatzeko bereziki egokitutako softwarearekin dago.
Beherantz inklinatutako habe bakarreko ikuskapen-tarte erregulagarria da laten eta botilen dimentsio desberdinetan oinarrituta
Beherantz inklinatutako habe bakarrak betetze-mailen ikuskapena lor dezake
Beherantz makurtuta errendimendu hobea lor daiteke laten eta botilen behealdean hondoratzen diren kutsatzaileentzat
*Parametroa
| Eredua | TXR-1630 SO |
| X izpien hodia | MAX.120kV, 480W |
| Detektatzeko Gehienezko Zabalera | 160 mm |
| Detekzio altuera maximoa | 280 mm |
| Ikuskapen onenaGaitasuna | Altzairu herdoilgaitzezko bolaΦ0,5 mm Altzairu herdoilgaitzezko alanbreaΦ0,3*2 mm Beira/Zeramikazko bolaΦ1,5 mm |
| GarraiatzaileaAbiadura | 10-60m/min |
| O/S | Windows 7 |
| Babes metodoa | Babes-tunela |
| X izpien ihesa | < 0,5 μSv/h |
| IP tasa | IP54 (estandarra), IP65 (aukerakoa) |
| Lan-ingurunea | Tenperatura: -10 ~ 40 ℃ |
| Hezetasuna:% 30 ~ 90, ihintzarik gabe | |
| Hozteko metodoa | Aire girotua industriala |
| Errefusatzaile modua | Bultzatu baztertzailea |
| Airearen presioa | 0.8Mpa |
| Energia hornidura | 3,5 kW |
| Material nagusia | SUS304 |
| Gainazalaren tratamendua | Ispilu leundua/Area leundua |
*Ohar
Goiko parametro teknikoa sentikortasunaren emaitza da, gerrikoan probako lagina soilik ikuskatuz.Benetako sentsibilitatea ikuskatuko diren produktuen arabera eragingo luke.
*Paketatzea
*Fabrikako bisita
