*Habe bakarreko X izpien ikuskapen-sistemaren aurkezpena botilak, poteak eta latak (gorantz inklinatuta):

Beam bakarreko X izpien ikuskapen-sistema botilak, poteak eta latak (gorantz inklinatua) ontziak ikuskapen eremuan zehar mugitzen dituen uhal garraiatzaile batez osatuta dago.Ontziak igarotzean, X izpien izpi kontrolatu baten eraginpean jartzen dira, eta ontziratzeko materiala barneratu daiteke.Orduan X izpiak uhal garraiatzailearen beste aldean dagoen sentsore-sistema batek detektatzen ditu.

Sentsore-sistemak jasotako X izpien datuak aztertzen ditu eta edukiontziaren edukiaren irudi zehatza sortzen du.Irudiak prozesatzeko algoritmo aurreratuak erabiltzen dira edozein anomalia edo objektu arrotzak identifikatzeko eta nabarmentzeko, hala nola metala, beira, harria, hezurra edo plastiko trinkoa.Kutsatzaileren bat antzematen bada, sistemak alarma bat eragin dezake edo automatikoki ontziari produkzio-lerrotik baztertu.

Beam bakarreko X izpien ikuskapen-sistema botilak, poteak eta latak (gorantz inklinatua) oso eraginkorra da ontziratutako elikagaien segurtasuna eta kalitatea bermatzeko.Kutsatzaile fisikoak ez ezik, betetze-maila egokiak, zigiluaren osotasuna eta beste kalitate-parametro batzuk ere ikus ditzakete.Sistema hauek asko erabiltzen dira elikagaien eta edarien industrian, arauzko eskakizunak betetzeko eta kontsumitzaileen konfiantza mantentzeko erosten dituzten produktuetan.

*-ren parametroaBeam bakarreko X izpien ikuskapen-sistema botilak, poteak eta latak (gorantz inklinatuta):

*Ohar

Goiko parametro teknikoa sentikortasunaren emaitza da, gerrikoan probako lagina soilik ikuskatuz.Benetako sentsibilitatea ikuskatuko diren produktuen arabera eragingo luke.