* ပုလင်းများ, အိုးများ, အိုးများ,

ပုလင်းများ, အိုးများ, ကွန်တိန်နာများဖြတ်သန်းသွားသောအခါ၎င်းတို့သည်ထုပ်ပိုးထားသောပစ္စည်းကိုထိုးဖောက်နိုင်သည့်ထိန်းချုပ်ထားသောဓာတ်မှန်ရိုက်စက်များနှင့်ထိတွေ့နိုင်သည်။ ထို့နောက် x-rays များကိုခလုတ်ခါးပတ်၏အခြားတစ်ဖက်တွင်အာရုံခံစနစ်ဖြင့်ရှာဖွေတွေ့ရှိသည်။

Sensor System သည်လက်ခံရရှိသည့် X-Ray ဒေတာများကိုရှာဖွေပြီးကွန်တိန်နာအတွင်းရှိပါ 0 င်သောအကြောင်းအရာများကိုအသေးစိတ်ဖော်ပြထားသည်။ Advanced Image processing algorithms algorithms ကိုသတ္တု, ဖန်, ကျောက်, အရိုး, အကယ်. မည်သည့်ညစ်ညမ်းမှုကိုမဆိုရှာဖွေတွေ့ရှိပါကစနစ်သည်ထုတ်လုပ်မှုလိုင်းမှကွန်တိန်နာကိုအလိုအလျောက်ငြင်းပယ်နိုင်သည်။

ပုလင်းများ, အိုးများနှင့်ကြံများ (အထက်သို့တက်ကြွသော) အတွက်တစ်ခုတည်းသောရောင်ခြည် X-Ray စစ်ဆေးရေးစနစ် (အထက်သို့တက်ကြွစွာ) သည်ထုပ်ပိုးထားသောအစားအစာထုတ်ကုန်များ၏လုံခြုံမှုနှင့်အရည်အသွေးကိုသေချာစေရန်အလွန်ထိရောက်သောဖြစ်သည်။ ၎င်းတို့သည်ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာညစ်ညမ်းမှုသာမကဘဲဖြည့်စွက်အဆင့်များကိုလည်းစစ်ဆေးနိုင်သည်။ ဤစနစ်များကိုအစားအစာနှင့်အဖျော်ယမကာလုပ်ငန်းများတွင်စည်းမျဉ်းစည်းကမ်းလိုအပ်ချက်များနှင့်ကိုက်ညီရန်နှင့်စားသုံးသူများကို 0 ယ်ယူသောထုတ်ကုန်များအပေါ်ယုံကြည်မှုရှိစေရန်အစားအစာနှင့်အဖျော်ယမကာလုပ်ငန်းများတွင်ကျယ်ကျယ်ပြန့်ပြန့်အသုံးပြုကြသည်။

* ၏ parameter သည်ပုလင်းများ, အိုးများ,

*မှတ်ချက်

အပေါ်ကနည်းပညာဆိုင်ရာ parameter သည်ခါးပတ်ပေါ်တွင်စမ်းသပ်နမူနာကိုသာစစ်ဆေးခြင်းဖြင့် sensitivity ၏ရလဒ်ဖြစ်သည်။ စစ်ဆေးပြီးသောထုတ်ကုန်များအရအမှန်တကယ် sensitivity ကိုထိခိုက်လိမ့်မည်။