Sistèm Enspeksyon Doub Enèji X-ray
*Karakteristik Sistèm Enspeksyon Radyo-X Doub Enèji Techik la:
Idantifikasyon materyèl DEXA: amelyore to deteksyon objè etranje yo efektivman
Algorit entelijan: Algorit entèlijan IA devlope endepandamman pa Techik ka efektivman amelyore presizyon deteksyon an epi redwi to fo deteksyon an.
Konsepsyon ijyenik wo nivo: gwo kapasite ki reziste pousyè ak enpèmeyab, epi adopte yon konsepsyon pant ak lage rapid.
Solisyon fleksib: selon diferan materyèl yo, ou ka chwazi yon mòd deteksyon entelijan eksklizif.
*ParamètSistèm Enspeksyon Radyo-X Doub Enèji Techik la:
| Modèl | TXR-2480DE | TXR-4080DE |
| Tib radyografi | 350W | |
| Lajè Enspeksyon | 240mm | 400mm |
| Wotè Enspeksyon | 160mm | 160mm |
| Pi bon sansiblite enspeksyon(San pwodwi) | Boul asye purΦ0.3mm Fil asye purΦ0.2 * 2mm Boul an vè/seramikΦ0.8mm | |
| Vitès CONVEYOR | 10-90m/minit | 10-90m/minit |
| Sistèm Operasyon | Fenèt | |
| Alimantasyon | 1.5kVA | |
| Mòd Alam | Kalite rejèktè (Rejèktè opsyonèl) | |
| Nivo Pwoteksyon | IP66 (Anba senti) | |
| Ajisteman Tanperati | Èkondisyone endistriyèl | |
| Emisyon reyon X | < 1 μSv/èdtan | |
| Mòd Pwoteksyon | Pwoteksyon SUS | |
| Materyèl prensipal | SUS304 | |
| Tretman Sifas | Poli glas / Sablaj | |
*Anbalaj
*Aplikasyon faktori
