*Introductio Systematis Inspectionis Quadriradii X pro Lagenis, Vasis et Vasis Metallicis:
Varia exempla Systematis Inspectionis Radiographicae Techik pro Ampullis, Vasis et Vasis Metallicis existunt, quae ad varias lineas productionis et productos accommodari possunt, ut materias externas in vasis metallicis, ampullis et vasis metallicis detegant et reiiciant. Techik satis experientiae et apparatum ad fabricatores ciborum aptatum habet.
*ParametrusSystema Inspectionis Radiorum X Triplicis Fasciculi Divisi pro Ampullis, Vasis et Vasis Metallicis:
| Modellum | TXR-1626-JDU4/TXR-1626-JDM4 |
| Tubus radiographicus | 350W/480W (facultativum) |
| Latitudo Inspectionis | 160mm |
| Altitudo Inspectionis | 260mm |
| Optima InspectioSensibilitatem | Sphaera chalybis inoxidabilisΦ0.5mm Filum chalybis inoxidabilisΦ0.3*2mm Sphaera ceramica/ceramicaΦ1.5mm |
| ConvectorCeleritas | 10-120m/min |
| O/S | Fenestrae |
| Methodus Protectionis | Cuniculus protectivus |
| Effusio Radiorum X | < 0.5 μSv/h |
| Frequentia IP | IP65 |
| Ambitus Laboris | Temperatura: -10~40℃ |
| Humiditas: 30~90%, sine ros | |
| Methodus Refrigerandi | Aeris condicionatio industrialis |
| Modus Reiectoris | Reiector impulsionis/reiector clavium clavilis (ad libitum) |
| Pressio Aeris | 0.8Mpa |
| Fons Potentiae | 4.5kW |
| Materia Primaria | SUS304 |
| Curatio Superficiei | Speculo politum/arena expugnatum |
*Nota
Parametrus technicus supra, scilicet, est effectus sensibilitatis per inspectionem solius exemplaris probati in cingulo. Sensibilitas actualis afficietur secundum producta inspicienda.


*Fasciculatio



*Visitatio Officinae